卓上低真空走査電子顕微鏡を用いた超薄切切片の新たなSTEM観察法と病理診断への応用
卓上低真空走査電子顕微鏡を用いた超薄切切片の新たなSTEM観察法と病理診断への応用
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台式低真空扫描电镜超薄切片STEM观察新方法及其在病理诊断中的应用
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
髙木 孝士
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Javkhlan Bold;南雲 佑;坂上 万里;本田 一穂;薗村貴弘;髙木 孝士
