3nm厚のCr(001)薄膜で観測された特異なスピンフラストレーション
3nm厚のCr(001)薄膜で観測された特異なスピンフラストレーション
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在 3nm 厚的 Cr(001) 薄膜中观察到独特的自旋挫败
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
菅 滋正
中科院分区：
文献类型：
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作者：
川越 毅;宮町俊生;菅 滋正
