THz エリプソメトリーによるInN 薄膜の電気特性評価
THz エリプソメトリーによるInN 薄膜の電気特性評価
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太赫兹椭圆偏振法评估InN薄膜的电学性能
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
森野健太,藤井高志,毛利真一郎,荒木努,名西やす之,長島健,岩本敏志,佐藤幸徳
中科院分区：
文献类型：
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作者：
山本 大地;山田 純平;上田 悠貴;藤原 亨介;丸山 隆浩;成塚 重弥;中塚理;森野健太,藤井高志,毛利真一郎,荒木努,名西やす之,長島健,岩本敏志,佐藤幸徳
