M.Yoshimi,S.Maegawa,T.Tsuchiya,M.Morita,K.Demizu,and T.Ohmi: "Evaluation of SOI Wafer Quality and Technological Issues to be Solved"Extended Abstracts of the 1999 International Conference on Solid State Devices and Materials. 352-353 (1999)
M.Yoshimi,S.Maegawa,T.Tsuchiya,M.Morita,K.Demizu,and T.Ohmi: "Evaluation of SOI Wafer Quality and Technological Issues to be Solved"Extended Abstracts of the 1999 International Conference on Solid State Devices and Materials. 352-353 (1999)
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M.Yoshimi、S.Maekawa、T.Tsuchiya、M.Morita、K.Demizu 和 T.Ohmi：“SOI 晶圆质量评估和要解决的技术问题”1999 年国际固态器件和半导体会议的扩展摘要
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