H.Tomiye: "“Characterization of SiO_2/Si with a novel scanning capacitance microscope combined with an atomic force microscope"" Appl.Surf.Sci.117/118. 166-170 (1997)
H.Tomiye: "“Characterization of SiO_2/Si with a novel scanning capacitance microscope combined with an atomic force microscope"" Appl.Surf.Sci.117/118. 166-170 (1997)
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H.Tomiye：“使用新型扫描电容显微镜与原子力显微镜表征 SiO_2/Si”，Appl.Surf.Sci.117/118 (1997)。
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