Connecting Software Reliability Growth Models to Software Defect Tracking
Connecting Software Reliability Growth Models to Software Defect Tracking
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将软件可靠性增长模型与软件缺陷跟踪联系起来
DOI：
10.1109/issre5003.2020.00022
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Wandji, Thierry
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Nafreen, Maskura;Luperon, Melanie;Fiondella, Lance;Nagaraju, Vidhyashree;Shi, Ying;Wandji, Thierry
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影响因子：
6.8
作者：
AKAIKE, H
通讯作者：
AKAIKE, H
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发表时间：
1963
期刊：
影响因子：
--
作者：
M. Tainiter
通讯作者：
M. Tainiter
现场缺陷解决过程的排队模型
DOI：
--
发表时间：
2006
期刊：
IEEE International Symposium on Software Reliability Engineering
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--
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通讯作者：
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DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
Proceedings of the 28th Annual International Computer Software and Applications Conference, 2004. COMPSAC 2004.
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--
作者：
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通讯作者：
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DOI：
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2016
期刊：
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影响因子：
--
作者：
H. Sukhwani;Javier Alonso;Kishor S. Trivedi;Issac Mcginnis
通讯作者：
Issac Mcginnis