S.Okuda, T.Nomura, et al: "A Method of Analyzing a Lateralshearing Interferogram to Measure Whole Surface Undertest"1st International Euspen Conference. 2. 149-152 (1999)
S.Okuda, T.Nomura, et al: "A Method of Analyzing a Lateralshearing Interferogram to Measure Whole Surface Undertest"1st International Euspen Conference. 2. 149-152 (1999)
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S.Okuda、T.Nomura 等人：“分析横向剪切干涉图以测量整个表面测试的方法”第一届国际 Euspen 会议。
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