K.Yokoyama et al.: "Atomic Resolution Imaging on Si(100)2x1 and Si(100)2x1:H Surfaces with Noncontact Atomic Force Microscopy"Jpn.J.Appl.Phys.. 39・2A. L113-L115 (2000)
K.Yokoyama et al.: "Atomic Resolution Imaging on Si(100)2x1 and Si(100)2x1:H Surfaces with Noncontact Atomic Force Microscopy"Jpn.J.Appl.Phys.. 39・2A. L113-L115 (2000)
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K. Yokoyama 等：“利用非接触原子力显微镜对 Si(100)2x1 和 Si(100)2x1:H 表面进行原子分辨率成像”Jpn.J.Appl.Phys.. 39・2A (2000) ）
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