半導体素子の放射線耐性の評価
半導体素子の放射線耐性の評価
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半导体器件耐辐射性能的评价
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
高倉健一郎
中科院分区：
文献类型：
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作者：
松本健佑;米岡将士;角田功;高倉健一郎
