Statistical distribution of RTS amplitudes in 20nm SOI FinFETs
Statistical distribution of RTS amplitudes in 20nm SOI FinFETs
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20nm SOI FinFET 中 RTS 幅度的统计分布
DOI：
10.1109/snw.2012.6243347
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Wang X
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Wang X
