Yb4TGe8 (T = Cr, Mn, Fe, Ni)系のX線発光分光、光電子分光、X線回折による電子状態と結晶構造の測定
Yb4TGe8 (T = Cr, Mn, Fe, Ni)系のX線発光分光、光電子分光、X線回折による電子状態と結晶構造の測定
复制标题
利用X射线发射光谱、光电子能谱和X射线衍射测量Yb4TGe8（T=Cr、Mn、Fe、Ni）体系的电子态和晶体结构
DOI：
--
复制
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
吉村一良
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
山岡人志;佐藤仁;引地将仁;山中俊介;道岡千城;辻井直人;石井啓文;平岡望;島田賢也;吉村一良
