基于X-ray透射成像的稻穗米粒粒型及谷粒饱满度测量

基于X-ray透射成像的稻穗米粒粒型及谷粒饱满度测量
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DOI:
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发表时间:
2018
期刊:
中国农业科技导报
影响因子:
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通讯作者:
段凌凤
段凌凤
中科院分区:
其他
文献类型:
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作者:
黄成龙;杨万能;吴迪;段凌凤

文献摘要

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