Fundamental reaction of RT gallium oxide atomic layer deposition investigated by IR absorption spectroscopy

Fundamental reaction of RT gallium oxide atomic layer deposition investigated by IR absorption spectroscopy
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红外吸收光谱研究 RT 氧化镓原子层沉积的基本反应

DOI:
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发表时间:
2015
期刊:
IEICE Transaction on Electronics
影响因子:
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通讯作者:
F. Hirose
F. Hirose
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
P. Pansila;K. Kanomata;B. Ahmmad;S. Kubota;F. Hirose

文献摘要

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