Rietveld analysis of intensity data taken on the TOF neutron powder diffractometer VEGA
Rietveld analysis of intensity data taken on the TOF neutron powder diffractometer VEGA
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对 TOF 中子粉末衍射仪 VEGA 上采集的强度数据进行 Rietveld 分析
DOI：
10.1016/s0921-4526(97)00032-x
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发表时间：
1997
影响因子：
2.8
通讯作者：
T. Kamiyama
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Ohta;F. Izumi;K. Oikawa;T. Kamiyama
