Surface Emissivity Calibration for Metal Cutting Tool and Workpiece Materials with Infrared Imager
Surface Emissivity Calibration for Metal Cutting Tool and Workpiece Materials with Infrared Imager
复制标题
DOI：
10.3901/jme.2009.12.182
复制
发表时间：
2009
影响因子：
--
通讯作者：
Y. Quan
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Y. Quan
