光学法による幹木部および葉のエンボリズムに対する脆弱性の評価
光学法による幹木部および葉のエンボリズムに対する脆弱性の評価
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通过光学方法评估茎木质部和叶栓塞的脆弱性
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
石田 厚
中科院分区：
文献类型：
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作者：
小笠真由美;安田泰輔;石田 厚
