Revision of conductance method for evaluating interface state density at MFIS interfaces
Revision of conductance method for evaluating interface state density at MFIS interfaces
复制标题
修正用于评估 MFIS 界面界面态密度的电导方法
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and S. Takagi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.-E. Lee;Z. -Y. Lin;K. Toprasertpong;M. Takenaka;and S. Takagi
