Exponential-like software reliability models based on binomial process

Exponential-like software reliability models based on binomial process
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基于二项式过程的指数型软件可靠性模型

DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
International Journal of Reliability and Quality Performance
影响因子：
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通讯作者：
X. Xiao and T. Dohi
X. Xiao and T. Dohi
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
高島祐貴;堀川三好;菅原光政;X. Xiao and T. Dohi

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