Y.Nagashima: "Measurement of characteristic X-rays by positron impact"Materials Science Forum. 445-446. 440-442 (2004)
Y.Nagashima: "Measurement of characteristic X-rays by positron impact"Materials Science Forum. 445-446. 440-442 (2004)
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Y.Nagashima：“通过正电子撞击测量特征X射线”材料科学论坛。
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关于 K-ionisierung 的作用的信息
DOI：
10.1016/0029-5582(66)90396-8
发表时间：
1966
期刊：
Nuclear Physics
影响因子：
--
作者：
H. Hansen;A. Flammersfeld
通讯作者：
A. Flammersfeld
银的内壳层被 100-400-keV 电子和正电子电离
影响因子：
2.9
作者：
S. Ito;S. Shimizu;T. Kawaratani;Ken
通讯作者：
Ken
低能电子和正电子对铜的 K 壳层电离的截面比
影响因子：
2.6
作者：
P. Schultz;J. Campbell
通讯作者：
J. Campbell
相对论性电子和正电子碰撞内壳层电离的比较
影响因子：
2.6
作者：
U. Schiebel;E. Bentz;A. Müller;E. Salzborn;H. Tawara
通讯作者：
H. Tawara
正电子碰撞内壳电离
DOI：
10.1007/bf01677924
发表时间：
1974
期刊：
Zeitschrift für Physik
影响因子：
--
作者：
S. A. H. Seif el Nasr;D. Berényi;G. Bibok
通讯作者：
G. Bibok