Compton spectroscopy for measuring diagnostic x-ray spectrum using high-resolution Schottky CdTe detector
Compton spectroscopy for measuring diagnostic x-ray spectrum using high-resolution Schottky CdTe detector
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使用高分辨率肖特基 CdTe 探测器测量诊断 X 射线光谱的康普顿光谱
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Masao Matsumoto
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Koji Maeda;Masao Matsumoto
