Film thickness determination using ultrashort terahertz pulses (Invited)
Film thickness determination using ultrashort terahertz pulses (Invited)
复制标题
使用超短太赫兹脉冲测定薄膜厚度（特邀）
DOI：
--
复制
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
K. Takeya
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
K. Kawase;K. Okimura;Y. Nishizawa;K. Takeya
