32Si AMS measurement with DE-Q3D method
32Si AMS measurement with DE-Q3D method
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使用 DE-Q3D 方法进行 32Si AMS 测量
DOI：
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
gong Jie
中科院分区：
文献类型：
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作者：
wang wei;Li chaoli;He Ming;Zhen Guowen;Hu hao;Jiang Shan;gong Jie
