極低温下での陽子照射による銅の電気抵抗変化測定のための装置開発
極低温下での陽子照射による銅の電気抵抗変化測定のための装置開発
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开发用于测量极低温下质子照射引起的铜电阻变化的设备
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
荻津透
中科院分区：
文献类型：
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作者：
岩元洋介;義家敏正;吉田誠;中本建志;阪本雅昭;栗山靖敏;上杉智教;石禎浩;Qiu Xu;八島浩;高橋史明;森義治;荻津透
