Vector electric field measurement via position-modulated Kelvin probe force microscopy
Vector electric field measurement via position-modulated Kelvin probe force microscopy
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通过位置调制开尔文探针力显微镜进行矢量电场测量
DOI：
10.1063/1.4999172
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发表时间：
2017
影响因子：
4
通讯作者：
Marohn, John A.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Dwyer, Ryan P.;Smieska, Louisa M.;Tirmzi, Ali Moeed;Marohn, John A.
