Youngwoo Kim, Daisuke Fujimoto, and Yuichi Hayashi
Youngwoo Kim, Daisuke Fujimoto, and Yuichi Hayashi
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金英雨、藤本大辅、林佑一
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Simultaneous Security and EMC Evaluations Based on Measuring Electromagnetic Field Distributions on PCBs
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Simultaneous Security and EMC Evaluations Based on Measuring Electromagnetic Field Distributions on PCBs
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
--
作者：
H. Ott
通讯作者：
H. Ott