放射光を用いたcoated conductor中の超伝導膜の内部ひずみ測定
放射光を用いたcoated conductor中の超伝導膜の内部ひずみ測定
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利用同步辐射测量涂层导体中超导薄膜的内应变
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
菅野未知央
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Hitosugi;N. Yamada;S. Nakao;K. Hatabayashi;T. Shimada and T. Hasegawa;菅野未知央
