サブテラヘルツ波を用いたポジトロニウムの超微細構造の測定I(光学系)
サブテラヘルツ波を用いたポジトロニウムの超微細構造の測定I(光学系)
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使用亚赫兹波 I 测量正电子超精细结构（光学系统）
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
山崎高幸
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Fukuda;et.al.;下田正;Kazumasa Kuwada;永井雄也;Y.Satou,T.Nakamura et al.;山崎高幸
