フラックスゲートセンサを用いたSS400の欠陥断面形状の解析・評価
フラックスゲートセンサを用いたSS400の欠陥断面形状の解析・評価
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使用磁通门传感器对SS400缺陷截面形状进行分析和评估
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
寺本徳郎
中科院分区：
文献类型：
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作者：
鈴木隆之;蓮見清章;黒田匠;寺本徳郎
