DetectorChecker: analyzing patterns of defects in detector screens
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DetectorChecker：分析探测器屏幕中的缺陷模式
DOI：
10.21105/joss.02474
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发表时间：
2020
影响因子：
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通讯作者：
Brettschneider J
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Brettschneider J
