Nano-observation of HIV entry process by electron microscopic tomography

Nano-observation of HIV entry process by electron microscopic tomography
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电子显微镜断层扫描对HIV侵入过程的纳米观察

DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
Proc. 16^<th> International Microscopy Congress vol. 2
影响因子：
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通讯作者：
A. Takaoka
A. Takaoka
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Toshiyuki Goto;A. Takaoka

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