Epitaxial CeO2 buffer layer on deliberately miscut sapphire for microcrack-free thick YBa2Cu3O7−δ films
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DOI：
10.1016/j.jcrysgro.2005.07.022
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发表时间：
2005-11
影响因子：
1.8
通讯作者：
J. Nie;H. Yamasaki;Y. Nakagawa;K. Develos-Bagarinao;M. Murugesan;H. Obara;Y. Mawatari
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J. Nie;H. Yamasaki;Y. Nakagawa;K. Develos-Bagarinao;M. Murugesan;H. Obara;Y. Mawatari
