Capacitance Measurement of High Current Density Nb/AlN/Nb Junctions with a 4-K Probe Station
Capacitance Measurement of High Current Density Nb/AlN/Nb Junctions with a 4-K Probe Station
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使用 4-K 探针台测量高电流密度 Nb/AlN/Nb 结的电容
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Uzawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Kojima;M. Kroug;K. Sato;T. Sakai;Y. Uzawa
