Surface Potential Imaging on InAs Quantum Dots and InAs Thin Films by Kelvin Probe Force Microscopy Operated in High Vacuum
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采用高真空下操作的开尔文探针力显微镜对 InAs 量子点和 InAs 薄膜进行表面电势成像
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Takuji Takahashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Shiano Ono;Misaichi Takeuchi;Takuji Takahashi
