Vector analysis of static magnetic field by adjusting measuring axis for Near-field magnetic force microscopy
Vector analysis of static magnetic field by adjusting measuring axis for Near-field magnetic force microscopy
复制标题
近场磁力显微镜通过调整测量轴进行静磁场矢量分析
DOI：
--
复制
发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
G. Egawa and S. Yoshimura
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
H. Saito;Z. Li;R. Ito;G. Egawa and S. Yoshimura
