MULTIPLE TESTING OF LOCAL MAXIMA FOR DETECTION OF PEAKS IN CHIP-SEQ DATA.
MULTIPLE TESTING OF LOCAL MAXIMA FOR DETECTION OF PEAKS IN CHIP-SEQ DATA.
复制标题
多次测试局部最大值以检测 Chip-SEQ 数据中的峰值。
DOI：
10.1214/12-aoas594
复制
发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Meyer,CliffordA
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Schwartzman,Armin;Jaffe,Andrew;Gavrilov,Yulia;Meyer,CliffordA
