Investigation of dynamic color deviation mechanisms of high power light-emitting diode

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DOI:
10.1016/j.microrel.2011.04.025
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发表时间:
2012-05
期刊:
Microelectron. Reliab.
影响因子:
--
通讯作者:
H. Fu;Chin-Wei Lin;Tzung-Te Chen;Chiu-Ling Chen;P. Chou;C. Sun
H. Fu;Chin-Wei Lin;Tzung-Te Chen;Chiu-Ling Chen;P. Chou;C. Sun
中科院分区:
其他
文献类型:
--
作者:
H. Fu;Chin-Wei Lin;Tzung-Te Chen;Chiu-Ling Chen;P. Chou;C. Sun

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