Preparation and thermoelectric characterization of phosphorus-doped Si nanocrystals/silicon oxide multilayers
Preparation and thermoelectric characterization of phosphorus-doped Si nanocrystals/silicon oxide multilayers
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磷掺杂硅纳米晶/氧化硅多层膜的制备及热电表征
DOI：
10.7567/1347-4065/ab6346
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发表时间：
2020
影响因子：
1.5
通讯作者：
Kurokawa Yasuyoshi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kobayashi Hisayoshi;Akaishi Ryushiro;Kato Shinya;Kurosawa Masashi;Usami Noritaka;Kurokawa Yasuyoshi
