Variation in dislocation pattern observed in SCS films fractured by tensile test:Effects of film thickness and testing temperature
Variation in dislocation pattern observed in SCS films fractured by tensile test:Effects of film thickness and testing temperature
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拉伸试验断裂的 SCS 薄膜中观察到的位错模式的变化：薄膜厚度和测试温度的影响
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Sato
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Nakao;T. Ando;S. Arai;N. Saito;K. Sato
DOI：
10.1016/0025-5416(88)90478-8
发表时间：
1988-11-01
影响因子：
6.4
作者：
SAMUELS, J;ROBERTS, SG;HIRSCH, PB
通讯作者：
HIRSCH, PB
纳米单晶硅丝中温AFM弯曲试验中的塑性变形
DOI：
10.1109/84.993447
发表时间：
2002
期刊：
IEEE\/ASME Journal of Microelectromechanical Systems
影响因子：
--
作者：
T. Namazu;Y. Isono;T. Tanaka
通讯作者：
T. Tanaka