RESIDUAL STRESS MEASUREMENT OF HIGH MOLECULAR MATTER BY TRANSMISSION X-RAY DIFFRACTION
RESIDUAL STRESS MEASUREMENT OF HIGH MOLECULAR MATTER BY TRANSMISSION X-RAY DIFFRACTION
复制标题
通过透射 X 射线衍射测量高分子物质的残余应力
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Takao HANABUSA
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Masashi KITAMURA;Masayuki NISHIDA;Takao HANABUSA
