Terahertz Scanning Tunneling Microscopy for Visualizing Ultrafast Electron Motion in Nanoscale Potential Variations

Terahertz Scanning Tunneling Microscopy for Visualizing Ultrafast Electron Motion in Nanoscale Potential Variations
复制标题

太赫兹扫描隧道显微术在纳米级电势变化中观察超快电子运动

DOI：
10.1021/acsphotonics.0c01572
复制
发表时间：
2021-01
期刊：
ACS Photonics
影响因子：
7
通讯作者：
S. Yoshida;Y. Arashida;H. Hirori;T. Tachizaki;A. Taninaka;Hiroki Ueno;O. Takeuchi;H. Shigekawa
S. Yoshida;Y. Arashida;H. Hirori;T. Tachizaki;A. Taninaka;Hiroki Ueno;O. Takeuchi;H. Shigekawa
中科院分区：
物理与天体物理1区
文献类型：
--
作者：
S. Yoshida;Y. Arashida;H. Hirori;T. Tachizaki;A. Taninaka;Hiroki Ueno;O. Takeuchi;H. Shigekawa

文献摘要

被引文献

相似文献

在超短时间尺度上研究材料中自由载流子的微观行为，对于开发满足日益增长的电子技术的半导体、光电子和其他技术至关重要。
Studying the microscopic behavior of free carriers in materials at an ultrashort time scale is critical to developing semiconductor, optoelectronic, and other technologies satisfying the ever-incre...