In-Plane X-ray Diffractometry Study on Thermal Oxidation-induced Anomalous Lattice Distortion at 4H-SiC Surfaces
In-Plane X-ray Diffractometry Study on Thermal Oxidation-induced Anomalous Lattice Distortion at 4H-SiC Surfaces
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4H-SiC 表面热氧化引起的反常晶格畸变的面内 X 射线衍射研究
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Adhi Dwi Hatmanto and Koji Kita
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Takuya Hamada;Hayato Mukai;Tokio Takahashi;Toshihide Ide;Mitsuaki Shimizu;Hiroki Kuroiwa;Takuya Hoshii;Kuniyuki Kakushima;Hitoshi Wakabayashi;Hiroshi Iwai;and Kazuo Tsutsui;Adhi Dwi Hatmanto and Koji Kita
