Late Dielectric Breakdown Phenomenon Caused by Microparticles Released after Current Interruption
Late Dielectric Breakdown Phenomenon Caused by Microparticles Released after Current Interruption
复制标题
电流中断后释放的微粒引起的晚期介电击穿现象
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A. Kumada and K. Hidaka
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Hachiman;F. Oshiro;Y. Nagayo;E. Kaneko;Y. Inada;Y. Taguchi;Y Yamano;M. Maeyama;Y. Kitabayashi;H. Iwabuchi;H. Ejiri;A. Kumada and K. Hidaka
