Optimizing Write Voltages to Achieve Equal Reliability for All Pages in Flash Memory
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复制标题
优化写入电压以实现闪存中所有页面的同等可靠性
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Wesel, R. D.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Galijasevic, S.;Wesel, R. D.
