Direct Observation of Removal of SiO2 Particles from Silica Surfaces: Evanescent Field and Lateral Force Microscopy Study
Direct Observation of Removal of SiO2 Particles from Silica Surfaces: Evanescent Field and Lateral Force Microscopy Study
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直接观察二氧化硅表面去除 SiO2 颗粒的情况：倏逝场和横向力显微镜研究
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hirokuni Hiyama
中科院分区：
文献类型：
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作者：
◯Yutaka Terayama;Panart Khajornrungruang;Keisuke Suzuki;Jihoon Seo;S. V. Babu;Hamada Satomi;Yutaka Wada;Hirokuni Hiyama
