Large area correlative light and electron microscopy imaging with multi-beam scanning electron microscopy for visualizing specific neural circuit
Large area correlative light and electron microscopy imaging with multi-beam scanning electron microscopy for visualizing specific neural circuit
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使用多束扫描电子显微镜进行大面积相关光学和电子显微镜成像，用于可视化特定的神经回路
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
岡野 栄之
中科院分区：
文献类型：
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作者：
芝田 晋介;信藤 知子;井原 諒;伊勢田 太郎;盛一 伸子;永井 俊弘;岡野 栄之
