Surface Defect Influence on the Ion Induced Secondary Electron Emission Yield from MgO Films
Surface Defect Influence on the Ion Induced Secondary Electron Emission Yield from MgO Films
复制标题
表面缺陷对 MgO 薄膜离子诱导二次电子发射产率的影响
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Nagatomi and Y. Takai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Sung Heo;J.G. Chung;H.-I. Lee;J.C. Lee;H.J. Kang;T. Nagatomi and Y. Takai
