Development of a Simple Probe for Non-Destructive Reversible Electric Contact to nm-Thick Films and 2D Films
Development of a Simple Probe for Non-Destructive Reversible Electric Contact to nm-Thick Films and 2D Films
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开发一种用于纳米厚膜和二维薄膜非破坏性可逆电接触的简单探针
DOI：
10.1380/ejssnt.2015.307
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发表时间：
2015
影响因子：
0.7
通讯作者：
Toyohiro Chikyow
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Michiko Yoshitake;Shinjiro Yagyu;Toyohiro Chikyow
