Thermo-mechanical analysis of bonding wires in IGBT modules under operating conditions

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DOI:
10.1016/j.microrel.2012.06.081
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发表时间:
2012-09
期刊:
Microelectron. Reliab.
影响因子:
--
通讯作者:
B. Czerny;M. Lederer;B. Nagl;Alexander Trnka;G. Khatibi;M. Thoben
B. Czerny;M. Lederer;B. Nagl;Alexander Trnka;G. Khatibi;M. Thoben
中科院分区:
其他
文献类型:
--
作者:
B. Czerny;M. Lederer;B. Nagl;Alexander Trnka;G. Khatibi;M. Thoben

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