Personalized feature extraction for manufacturing process signature characterization and anomaly detection
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DOI：
10.1016/j.jmsy.2024.04.002
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发表时间：
2024-06
影响因子：
12.1
通讯作者：
Naichen Shi;Shenghan Guo;Raed Al Kontar
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Naichen Shi;Shenghan Guo;Raed Al Kontar
