Er添加SiOx薄膜の赤外発米における内部量子効率測定と作製条件の最適化
Er添加SiOx薄膜の赤外発米における内部量子効率測定と作製条件の最適化
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掺铒 SiOx 薄膜红外米生产中内量子效率测量及制备条件优化
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
住吉猛
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Takahagi;M. Ohno;M. Ikebe;E. Sano;住吉猛
